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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13250. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

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資料番号: L-13250
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13251. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13251
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13252. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

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資料番号: L-13252
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13253. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13253
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13254. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

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資料番号: L-13254
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13255. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13255
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13256. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13256
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13257. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13257
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13258. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13258
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13259. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13259
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13260. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13260
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13261. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13261
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13262. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13262
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13263. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13263
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13264. Ni-0.3Si, A790, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13264
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A790. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13265. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13265
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13266. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13266
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13267. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13267
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13268. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13268
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13269. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13269
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13270. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13270
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13271. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13271
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13272. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13272
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13273. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13273
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13274. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13274
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13275. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13275
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13276. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13276
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13277. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13277
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13278. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13278
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13279. Ni-0.3Ge, A850, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13279
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A850. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13280. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M, BF, 30K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13280
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13281. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13281
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13282. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13282
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13283. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13283
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13284. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

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資料番号: L-13284
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13285. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

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資料番号: L-13285
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13286. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13286
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13287. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13287
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13288. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13288
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13289. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13289
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13290. Ni-0.3Cu, A727, RTNS-II, 290℃, M, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13290
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A727. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13291. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13291
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13292. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13292
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13293. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13293
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13294. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13294
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13295. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13295
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13296. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13296
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13297. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13297
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13298. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13298
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13299. Cu-2Ge, G142, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13299
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G142. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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