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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13351. Cu-2Ni, G291, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13351
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G291. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13352. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13352
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13353. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13353
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13354. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13354
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13355. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13355
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13356. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13356
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13357. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13357
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13358. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13358
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13359. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13359
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13360. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13360
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13361. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13361
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13362. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13362
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13363. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13363
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13364. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13364
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13365. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13365
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13366. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13366
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13367. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13367
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13368. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13368
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13369. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13369
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13370. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13370
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13371. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13371
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13372. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13372
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)別grain.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13373. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13373
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13374. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13374
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13375. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13375
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13376. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13376
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13377. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13377
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13378. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13378
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13379. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13379
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13380. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13380
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13381. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 100K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13381
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13382. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13382
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13383. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13383
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)析出物？.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13384. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13384
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13385. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13385
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13386. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13386
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13387. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13387
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13388. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, ED., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13388
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13389. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13389
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13390. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13390
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13391. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13391
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Void.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13392. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF, 50K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13392
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)Void.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13393. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13393
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13394. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13394
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13396. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF, 20K., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13396
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13397. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, BF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13397
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13398. Cu-2Si, G447, RTNS-II, 350℃, S, DF., [1988年1月27日.]

 アイテム
資料番号: L-13398
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G447. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年1月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13399. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13399
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13400. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13400
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13401. Cu-0.3Sn, G538(試料にはG588と書いてある), RTNS-II, 350℃, S', DF, 50K., [昭和]63/1/29.

 アイテム
資料番号: L-13401
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G538(試料にはG588と書いてある). (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [昭和]63/1/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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