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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13452. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13452
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13453. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13453
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13454. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13454
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13455. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13455
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13456. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13456
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13457. Cu-0.3Si, G392, RTNS-II, 350℃, S., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13457
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G392. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)S. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)析出無し.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13458. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13458
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13459. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13459
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13460. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13460
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13461. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13461
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13462. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13462
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13463. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13463
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13464. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13464
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13465. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13465
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13466. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13466
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13467. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13467
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13468. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13468
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13469. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13469
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13470. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13470
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13471. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13471
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13472. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13472
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13473. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13473
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13474. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13474
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13475. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13475
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13476. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13476
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13477. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13477
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13478. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13478
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13479. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13479
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13480. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13480
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13481. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13481
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13482. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13482
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13483. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13483
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13484. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13484
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13485. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13485
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13486. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13486
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13487. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13487
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13488. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13488
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13489. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13489
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13490. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13490
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13491. Ni, B171, RTNS-II, 200℃, SSS., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13491
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13492. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13492
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13493. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1988年1月29日.]

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資料番号: L-13493
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13494. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13494
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13495. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13495
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13496. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13496
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13497. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13497
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13498. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13498
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13499. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 50K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13499
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13500. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 30K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13500
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-13501. Ni, B177, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1988年1月29日.]

 アイテム
資料番号: L-13501
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B177. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)under.

日付: [1988年1月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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