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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14129. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14129
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14130. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14130
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14131. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14131
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14132. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14132
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14133. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14133
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14134. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14134
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14135. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14135
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14136. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14136
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14137. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14137
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14138. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14138
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14139. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14139
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14140. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14140
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14142. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14142
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14143. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14143
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)以上同じGrain.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14144. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14144
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14145. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14145
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14146. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14146
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14147. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14147
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14148. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14148
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14149. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14149
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14150. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14150
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14151. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, DF, 200K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14151
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14152. Cu-0.3Ni, G237, RTNS-II, 150℃(Fin), S, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14152
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G237. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃(Fin). (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14153. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14153
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)始点.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14154. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14154
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14155. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14155
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14156. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14156
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14157. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14157
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14158. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14158
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14159. Ni, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14159
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)終点.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14160. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14160
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)始点.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14161. Ni, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1988年3月18日.]

 アイテム
資料番号: L-14161
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)終点.

日付: [1988年3月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14162. Ni-2Si, G305, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [19]'88. 3. 21.

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資料番号: L-14162
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G305. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)contami多し. 日付元記載「'88. 3. 21」.

日付: [19]'88. 3. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14163. Ni-2Si, G305, RTNS-II, 200℃, W, ED, 55cm., [19]'88. 3. 21.

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資料番号: L-14163
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G305. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [19]'88. 3. 21.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14164. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14164
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)focus,stigmaの合わせが速く出来るよう.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14165. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14165
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)になったので、ゴミがあまりつかない。.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14166. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14166
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)64から72にかけて三つはずし。.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14167. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14167
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)ゆるやかにdiff.変化.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14168. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14168
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)64から72にかけてだんだん良くなる。.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14169. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14169
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14170. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14170
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14171. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14171
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14172. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14172
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14173. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14173
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W.

(備考)二つはずし。.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14174. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14174
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14175. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14175
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)始点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14176. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14176
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)中点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14177. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14177
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)終点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14178. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14178
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)78～90にかけて二つ外し　別grain.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14179. Ni, Ae902, RTNS-IIfinal　, 150℃, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14179
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae902. (照射条件)RTNS-IIfinal　. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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