メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14230. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14230
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14231. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14231
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14232. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14232
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14233. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14233
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14234. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14234
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14235. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14235
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14236. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14236
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14237. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14237
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14238. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14238
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14239. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14239
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14240. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14240
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14241. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14241
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14242. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14242
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14243. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14243
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14244. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14244
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14245. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14245
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14246. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14246
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B st.2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14247. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14247
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14248. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14248
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)以下4枚　st.1とst.2の間.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14249. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14249
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14250. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14250
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14251. Cu-0.3Ge, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14251
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14252. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14252
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)３つ外し.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14253. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14253
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14254. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14254
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14255. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14255
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14256. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14256
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14257. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14257
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14258. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14258
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)３つよりやや大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14259. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14259
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14260. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14260
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)終点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14261. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14261
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)始点.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14262. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14262
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14263. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14263
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14264. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14264
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14265. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14265
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14266. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14266
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)4 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14267. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14267
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)5 α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14268. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14268
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14269. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14269
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14270. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14270
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14271. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14271
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14272. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14272
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14273. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14273
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14274. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14274
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14275. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14275
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0(α側）.

(備考)1の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14276. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14276
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)2の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14277. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14277
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3の隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14278. Ni, Ae904, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14278
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae904. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)4と1の間（近い所にある）.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14279. Cu, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 20K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14279
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.0 厚い.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ