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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14380. Cu-0.3Sn, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14380
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14381. Cu-0.3Sn, RTNS-IIFin, 150℃, S, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14381
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14382. Cu-0.3Sn, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14382
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)以下85までsize用.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14383. Cu-0.3Sn, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14383
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14384. Cu-0.3Sn, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14384
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14385. Cu-0.3Sn, RTNS-IIFin, 150℃, S, DF, 200K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14385
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)150℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)↑.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14386. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14386
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14387. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14387
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14388. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14388
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14389. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14389
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14390. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14390
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14391. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14391
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　1.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14392. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14392
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　2.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14393. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14393
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　3.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14394. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14394
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　4.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14395. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14395
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　5.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14396. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14396
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　6.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14397. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14397
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　7.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14398. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14398
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　8.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14399. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14399
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　9.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14400. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14400
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14401. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14401
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　以下08までの間で1-9のはずだが、どれか抜け.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14402. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14402
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14403. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14403
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14404. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14404
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14405. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14405
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14406. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14406
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14407. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14407
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14408. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14408
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14409. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14409
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14410. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14410
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)1 近く.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14411. Ni, Ae906, RTNS-IIFin, RT, W, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14411
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae906. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)9 近く　α側のfringe.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14412. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14412
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 E.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14413. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14413
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 E.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14414. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14414
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)st.1 D 隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14415. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14415
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)st.1 C　さらに隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14416. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14416
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)st.1 D　さらに隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14417. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14417
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 A　さらに隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14418. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14418
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14419. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14419
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14420. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14420
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14421. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14421
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)st.2 B ?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14422. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14422
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)st.2 C ?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14423. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14423
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)st.2 D ?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14424. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14424
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)st.2 E ?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14425. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14425
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14426. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14426
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14427. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14427
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2と同じ条件　すぐ隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14428. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14428
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)さらに隣.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14429. Cu, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14429
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)さらに隣　　以上すべて同一Grain.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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