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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14480. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14480
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1に近い　A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14481. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14481
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14482. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14482
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14483. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14483
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14484. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14484
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14485. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14485
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14486. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14486
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14487. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14487
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14488. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14488
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14489. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14489
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14490. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14490
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)C.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14491. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14491
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)D.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14492. Cu-2Ge, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14492
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14493. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14493
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14494. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14494
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14495. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14495
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14496. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14496
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14497. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14497
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14498. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14498
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14499. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14499
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14500. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14500
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14501. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14501
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14502. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14502
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14503. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14503
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14504. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14504
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14505. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14505
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 B.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14506. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14506
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 A.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14507. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14507
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 C.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14508. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14508
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2 D.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14509. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14509
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 D.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14510. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14510
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 E.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14511. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14511
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2 F　　以上全部同一Grain.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14512. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14512
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14513. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14513
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14514. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14514
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14515. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14515
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)H.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14516. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14516
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)I.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14517. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

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資料番号: L-14517
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)G.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14518. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14518
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)H?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14519. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14519
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14520. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14520
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)H?.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14521. Ni, Ae901, RTNS-II, 350℃, W, DF, 50K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14521
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)Ae901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)contami べっとり　だめ.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14522. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14522
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)以下30まで　デモ用SFT.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14523. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14523
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14524. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14524
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14525. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14525
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14526. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14526
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14527. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14527
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14528. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, ED, 55cm., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14528
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14529. Ni, A954, RTNS-II, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月21日.]

 アイテム
資料番号: L-14529
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A954. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓.

日付: [1988年3月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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