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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36361. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36361
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　α　＋19赤0～3（240）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36362. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36362
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36363. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36363
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36364. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36364
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36365. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36365
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36366. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36366
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36367. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36367
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36368. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36368
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36369. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36369
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36370. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36370
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　　＋11　赤3（0）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36371. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36371
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36372. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36372
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36373. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36373
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　β.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36374. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36374
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36375. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36375
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36376. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36376
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36377. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36377
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36378. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36378
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36379. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36379
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)別のgrain.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36380. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36380
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36381. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36381
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36382. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36382
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36383. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36383
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36384. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36384
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36385. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36385
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C　　α.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36386. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36386
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36387. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36387
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36388. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 100K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36388
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36389. Ni, A741, RTNS-II, RT　木下, SS, DF, 52K., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36389
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A741. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT　木下. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36390. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36390
範囲と内容

(試料)Ferri.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36391. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36391
範囲と内容

(試料)Ferri. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下8.5（＋）赤2（240）.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36392. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36392
範囲と内容

(試料)Ferri. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36393. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36393
範囲と内容

(試料)Ferri.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36394. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36394
範囲と内容

(試料)Ferri.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36395. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36395
範囲と内容

(試料)Ferri. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36396. Ferri, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36396
範囲と内容

(試料)Ferri. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36397. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36397
範囲と内容

(試料)Ferri.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36398. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36398
範囲と内容

(試料)Ferri.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36399. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36399
範囲と内容

(試料)Ferri.

(備考)↷2.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36400. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36400
範囲と内容

(試料)Ferri.

(備考)↶2.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36401. Ferri, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36401
範囲と内容

(試料)Ferri. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36402. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36402
範囲と内容

(試料)Ferri. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36403. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36403
範囲と内容

(試料)Ferri.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36404. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36404
範囲と内容

(試料)Ferri.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36405. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36405
範囲と内容

(試料)Ferri.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36406. Ferri., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36406
範囲と内容

(試料)Ferri. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36407. Ferri, ED., [1986年12月5日.]

 アイテム
資料番号: O-36407
範囲と内容

(試料)Ferri. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36408. Ni, B115, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., 1986. 12. 7.

 アイテム
資料番号: O-36408
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B115. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A. 日付元記載「1986. 12. 7」.

日付: 1986. 12. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36409. Ni, B115, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., 1986. 12. 7.

 アイテム
資料番号: O-36409
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B115. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: 1986. 12. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36410. Ni, B115, RTNS-II, 200℃, S, DF, 31K., 1986. 12. 7.

 アイテム
資料番号: O-36410
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B115. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: 1986. 12. 7.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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