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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14875. Ni, A019, RTNS-IIHin, 290℃, W, DF, 100K., 1988. 5. 30.

 アイテム
資料番号: L-14875
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)A019. (照射条件)RTNS-IIHin. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1988. 5. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14876. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14876
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14877. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14877
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14878. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14878
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14879. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14879
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14880. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14880
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14881. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14881
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14882. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14882
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14883. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14883
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14884. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14884
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14885. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14885
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14886. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14886
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14887. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14887
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14888. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14888
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14889. Ni, B262, RTNS-II, 450℃, S, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14889
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14890. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14890
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14891. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14891
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14892. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14892
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14893. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14893
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14894. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14894
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14895. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14895
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14896. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14896
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)α.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14897. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14897
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Dummy β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14898. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14898
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14899. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14899
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14900. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14900
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14901. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14901
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14902. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14902
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14903. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14903
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)β.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14904. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14904
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14905. Ni, B266, RTNS-II, 450℃, W, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14905
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B266. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14906. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14906
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)繰り返し照射1.2e16n/cm2, 909 0.61e16n/cm2 ほとんどいない.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14907. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14907
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14908. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14908
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14909. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 50K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14909
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14910. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 50K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14910
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14911. Ni, 908, RTNS-II, RT , ED, 55cm., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14911
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

(備考)06-08に対応　三つはずし.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14912. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14912
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓　A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14913. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14913
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14914. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14914
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14915. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14915
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14916. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14916
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14917. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14917
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14918. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14918
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14919. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14919
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14920. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14920
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14921. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14921
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑　B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14922. Ni, 908, RTNS-II, RT , ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14922
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14923. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14923
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14924. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14924
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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