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電子顕微鏡写真 Electron micrographs

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件名：ソース: Ku Peek Class

63359 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14925. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14925
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14926. Ni, 908, RTNS-II, RT , DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14926
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)908. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT . (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑　B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14927. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14927
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)繰り返し照射.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14928. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14928
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14929. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14929
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14930. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14930
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14931. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14931
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14932. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14932
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14933. Ni, 909, RTNS-II, RT, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14933
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14934. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14934
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14935. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14935
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14936. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14936
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14937. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14937
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14938. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14938
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14939. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14939
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14940. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14940
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)以下別Grain.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14941. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14941
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14942. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14942
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14943. Ni, 909, RTNS-II, RT, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14943
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14944. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14944
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14945. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14945
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14946. Ni, 909, RTNS-II, RT, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14946
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)909. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14947. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14947
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)繰り返し照射　A　　三つはずし.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14948. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14948
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14949. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14949
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14950. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14950
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14951. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14951
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14952. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14952
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14953. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14953
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14954. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14954
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14955. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14955
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14956. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14956
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14957. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14957
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14958. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14958
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14959. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, ED, 55cm., [1988年5月30日.]

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資料番号: L-14959
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)55cm.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14960. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14960
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14961. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14961
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　だんだん勾配きつくなる.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14962. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14962
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↓　フリンジの幅狭くなる.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14963. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14963
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14964. Ni, 901, RTNS-II, RT, 70000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14964
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)901. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)70000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14965. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 100K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14965
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14966. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14966
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14967. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14967
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14968. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14968
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14969. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14969
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14970. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14970
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B ごみ.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14971. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14971
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14972. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14972
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↓.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14973. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14973
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)↑.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-14974. Ni, 902, RTNS-II, RT, 6000000000000000, DF, 50K., [1988年5月30日.]

 アイテム
資料番号: L-14974
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)902. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)6000000000000000. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)B.

日付: [1988年5月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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