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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21902. Ni, α097, RTNS-II, RT, M., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21902
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α097. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21903. Ni, α097, RTNS-II, RT, M, ED., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21903
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α097. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21904. Ni, α097, RTNS-II, RT, M., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21904
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α097. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (反射ベクトルg)上と同じｇ.

(備考)上12（-）赤（40）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21905. Ni, α097, RTNS-II, RT, M., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21905
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α097. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21906. Ni, α097, RTNS-II, RT, M., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21906
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α097. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21907. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21907
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上3.5（-）黒2（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21908. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21908
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21909. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21909
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21910. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21910
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21911. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21911
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21912. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21912
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21913. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21913
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上9.5（-）黒9（340）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21914. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21914
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21915. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21915
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21916. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21916
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21917. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21917
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21918. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21918
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21919. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21919
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21920. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21920
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21921. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21921
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

(備考)上14（-）黒17（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21922. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21922
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21923. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21923
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21924. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21924
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21925. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21925
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21926. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21926
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21927. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21927
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21928. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21928
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21929. Ni, α099, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21929
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21930. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21930
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21931. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21931
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)just .

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21932. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21932
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→2 .

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21933. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21933
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→4.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21934. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21934
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←2.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21935. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21935
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←4.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21936. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21936
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)just 　下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21937. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21937
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0(3).

(備考)→2 fine大　 下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21938. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21938
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→4　　　　　下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21939. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21939
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←2　　　　　下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21940. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21940
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←4　　　　　下15（＋）赤6（240）.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21941. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21941
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)just .

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21942. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21942
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→2 .

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21943. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21943
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)→4.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21944. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21944
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←2.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21945. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21945
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)←4.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21946. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21946
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21947. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21947
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21948. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21948
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21949. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21949
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21950. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21950
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-21951. Ni, α100, RTNS-II, RT, SS., [1986年4月1日.]

 アイテム
資料番号: O-21951
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)α100. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年4月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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