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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27997. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-27997
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27998. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-27998
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-27999. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M, BF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-27999
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28000. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28000
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28001. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28001
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28002. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28002
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28003. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28003
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28004. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28004
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28005. Au-1000Ni, G563, RTNS-II, 200℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28005
範囲と内容

(試料)Au-1000Ni. (試料番号)G563. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28006. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28006
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)Void居ない　エッジ近くのものはピット.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28007. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28007
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28008. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28008
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28009. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, EF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28009
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)EF.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28010. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28010
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28011. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28011
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28012. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28012
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)厚い.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28013. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28013
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28014. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28014
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28015. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28015
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28016. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28016
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28017. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28017
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28018. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28018
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28019. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28019
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28020. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28020
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28021. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28021
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上の部分は歪んでいるため隣の部分.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28022. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28022
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28023. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28023
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28024. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28024
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28025. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28025
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200 spot near 110 pole. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ボイドいない.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28026. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28026
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)同上.

(備考)ピット.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28027. Cu-0.05Sn, G921, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28027
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G921. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)同上.

(備考)ボイド？.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28028. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28028
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)D3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28029. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28029
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28030. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28030
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)同じグレインB.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28031. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28031
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)同じグレインC.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28032. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28032
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28033. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28033
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28034. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28034
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28035. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28035
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28036. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28036
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28037. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28037
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28038. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28038
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28039. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28039
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28040. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28040
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小 .

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28041. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28041
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28042. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28042
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28043. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28043
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)B.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28044. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28044
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28045. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28045
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28046. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28046
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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