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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28047. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28047
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28048. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28048
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)C～.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28049. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28049
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)C～.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28050. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28050
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28051. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28051
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28052. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28052
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28053. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28053
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

(備考)同じグレイン.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28054. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28054
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28055. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28055
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)隣.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28056. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28056
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)さらに隣へ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28057. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28057
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s　中～大.

(備考)さらに.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28058. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28058
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)以上4枚のdiff.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28059. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28059
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

(備考)4枚とも同じグレインなので厚みは大体同じ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28060. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28060
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

(備考)dislocation, ST1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28061. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28061
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

(備考)ST.1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28062. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28062
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)ST.1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28063. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28063
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)dislocation, ST1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28064. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28064
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28065. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28065
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

(備考)ST.2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28066. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28066
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

(備考)ST.2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28067. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28067
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)ST.2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28068. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28068
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

(備考)ST.2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28069. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28069
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28070. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28070
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28071. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28071
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28072. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28072
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28073. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28073
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

(備考)正g.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28074. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28074
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28075. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28075
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)隣　同じｇ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28076. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28076
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s 中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28077. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28077
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)110poleそば. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28078. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28078
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28079. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28079
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中～.

(備考)この試料おわり.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28080. Cu-0.05Si, G802, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28080
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G802. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28081. Cu, RTNS-II, 290℃, W, BF, 21K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28081
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s 中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28082. Cu, RTNS-II, 290℃, W, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28082
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28083. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28083
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28084. Cu, RTNS-II, 290℃, W, BF, 11K., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28084
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28085. Cu, RTNS-II, 290℃, W, BF, 11K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28085
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28086. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 11K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28086
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28087. Cu, RTNS-II, 290℃, W, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28087
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28088. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28088
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28089. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28089
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28090. Cu, RTNS-II, 290℃, W, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28090
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28091. Cu, RTNS-II, 290℃, W, DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28091
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28092. SS', DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28092
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28093. SS', DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28093
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s　小～中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28094. SS', DF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28094
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28095. SS', DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28095
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 中.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28096. SS', DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28096
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 中～大.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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