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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28097. SS', DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28097
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s 小.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28098. SS', ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28098
範囲と内容

(照射量)SS'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28099. SS'., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28099
範囲と内容

(照射量)SS'. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28100. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28100
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1 α＋19.5.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28101. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28101
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28102. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28102
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28103. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28103
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28104. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28104
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)4.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28105. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28105
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28106. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28106
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β＋26.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28107. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28107
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)1.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28108. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28108
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28109. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28109
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28110. Ni, B269, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28110
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)4.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28111. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28111
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28112. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28112
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)1 γ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28113. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28113
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)2.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28114. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28114
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)3.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28115. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28115
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

(備考)4.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28116. Ni, B269, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28116
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28117. Ni, B269, 200℃, SSS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28117
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B269. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28118. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28118
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28119. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28119
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28120. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28120
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28121. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28121
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28122. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28122
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28123. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 210K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28123
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28124. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28124
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28125. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28125
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28126. SUS, B869, 200℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28126
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28127. SUS, B869, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28127
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)B869. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28128. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28129. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28130. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28131. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28132. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28133. Ni, B270, 450℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28133
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28134. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28134
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28135. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28135
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他grain.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28136. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28136
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)①　α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28137. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28137
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②　α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28138. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28138
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③　α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28139. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28139
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)④　α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28140. Ni, B270, 450℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28140
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28141. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28141
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28142. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28142
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)①　β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28143. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28143
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②　β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28144. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28144
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③　β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28145. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28145
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)④　β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28146. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28146
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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