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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28147. Ni, B270, 450℃, SSS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28147
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28148. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28148
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28149. Ni, B270, 450℃, SSS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28149
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B270. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

(備考)③の所.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28150. Ni, B262, 450℃, S, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28150
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28151. Ni, B262, 450℃, S, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28151
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)contami 多い.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28152. Ni, B262, 450℃, S, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28152
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28153. Ni, B262, 450℃, S, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28153
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28154. Ni, B262, 450℃, S, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28154
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28155. Ni, B262, 450℃, S., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28155
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B262. (照射温度)450℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28156. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28156
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28157. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28157
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)contami　　多い.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28158. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28158
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28159. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28159
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28160. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28160
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28161. Ni-2Si, 450℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28161
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28162. Ni-2Si, 450℃, SS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28162
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28163. Ni-2Sn, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28163
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)表面やられてる.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28164. Ni-2Sn, 450℃, SS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28164
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28165. Ni-2Cu, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28165
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)酸化膜.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28166. Ni-2Cu, 450℃, SS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28166
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28167. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28167
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28168. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28168
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28169. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28169
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)① α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28170. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28170
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②　 α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28171. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28171
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③　 α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28172. Ni-2Ge, 450℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28172
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28173. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28173
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28174. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28174
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28175. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28175
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28176. Ni-2Ge, 450℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28176
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28177. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28177
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28178. Au, JMTR, BF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28178
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28179. Au, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28179
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28180. Au, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28180
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28181. Au, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28181
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28182. Au, JMTR, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28182
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28183. Au, JMTR, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28183
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28184. Au, JMTR, BF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28184
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28185. Au, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28185
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28186. Au, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28186
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28187. Au, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28187
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28188. Au, JMTR, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28188
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28189. Au, JMTR, DF, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28189
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28190. Au, JMTR, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28190
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28191. Au, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28191
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28192. Au, JMTR, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28192
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28193. Au, JMTR, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28193
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下と対.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28194. Au, JMTR, DF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28194
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上と対.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28195. Au, JMTR, Edy., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28195
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)Edy.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28196. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28196
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α＋125.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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