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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28197. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28197
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)110.

(備考)α＋125.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28198. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28198
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)↓.

(備考)α＋125.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28199. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28199
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)↓.

(備考)α＋125.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28200. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28200
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)↓.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28201. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28201
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)↓.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28202. Ni, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28202
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)↓.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28203. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28203
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)↓.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28204. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28204
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (反射ベクトルg)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28205. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28205
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28206. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28206
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)小島君の方法.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28207. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28207
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28208. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28208
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28209. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28209
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

(備考)酸化物のリング.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28210. Ni, JMTR, 200℃, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28210
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28211. Ni, JMTR, 200℃, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28211
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28212. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28212
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28213. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28213
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28214. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28214
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28215. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28215
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28216. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28216
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28217. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28217
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

(備考)上2.5(-).

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28218. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28218
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28219. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28219
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)赤2(260).

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28220. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28220
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28221. Ni, JMTR, 200℃, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28221
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28222. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28222
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28223. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28223
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

(備考)? 1.5(?).

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28224. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28224
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

(備考)赤　2(160).

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28225. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28225
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28226. Ni, JMTR, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28226
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28227. Ni, JMTR, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28227
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28228. Au1000Ni, G563, 200℃, 52K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28228
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28229. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28229
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28230. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28230
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28231. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28231
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28232. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28232
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28233. Au1000Ni, G563, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28233
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28234. Au1000Ni, G563, 200℃, BF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28234
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28235. Au1000Ni, G563, 200℃, BF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28235
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28236. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28236
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28237. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28237
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28238. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28238
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28239. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28239
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28240. Au1000Ni, G563, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28240
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28241. Au1000Ni, G563, 200℃, BF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28241
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28242. Au1000Ni, G563, 200℃, BF., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28242
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28243. Au1000Ni, G563, 200℃, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28243
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28244. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28244
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28245. Au1000Ni, G563, 200℃., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28245
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28246. Au1000Ni, G563, 200℃, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28246
範囲と内容

(試料)Au1000Ni. (試料番号)G563. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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