メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28497. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28497
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28498. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28498
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28499. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28499
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28500. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28500
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28501. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28501
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28502. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28502
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28503. Cu, A861, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28503
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)　＋3.0　5.5（200）赤.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28504. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28504
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28505. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28505
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28506. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28506
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28507. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28507
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28508. Cu, A861, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28508
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28509. Cu, A861, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28509
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　-4.0　10(20)赤.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28510. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28510
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28511. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28511
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28512. Cu, A861, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28512
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28513. Cu, A861, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28513
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A861. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28514. Cu2Ni, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28514
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28515. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28515
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28516. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28516
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28517. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28517
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28518. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28518
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28519. Cu2Ni, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28519
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28520. Cu2Ni, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28520
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28521. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28521
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28522. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28522
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28523. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28523
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28524. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28524
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28525. Cu2Ni, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28525
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28526. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28526
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28527. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28527
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)完.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28528. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28528
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28529. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28529
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28530. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28530
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28531. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28531
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28532. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28532
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)α　　　　↓g.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28533. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28533
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28534. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28534
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28535. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28535
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28536. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28536
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28537. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28537
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28538. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28538
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28539. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28539
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28540. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28540
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28541. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28541
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28542. Cu2Ge, G611, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28542
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　　　　　　　↓ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28543. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28543
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28544. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28544
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28545. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28545
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28546. Cu2Ge, G611, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28546
範囲と内容

(試料)Cu2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G611. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

(備考)γ　　　　　　　↑ｇ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 研究資源アーカイブホームページ