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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28598. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28598
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28599. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28599
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28600. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28600
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28601. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28601
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28602. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28602
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28603. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28603
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28604. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28604
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28605. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28605
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28606. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28606
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28607. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28607
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28608. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28608
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28609. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28609
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28610. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28610
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28611. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28611
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28612. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28612
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28613. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28613
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28614. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28614
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28615. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28615
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28616. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28616
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28617. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28617
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28618. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28618
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28619. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28619
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28620. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28620
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28621. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28621
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28622. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28622
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28623. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28623
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28624. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28624
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28625. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28625
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28626. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28626
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28627. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28627
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28628. Cu, A862, 200℃, M, BF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28628
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「1986. 8. 2. a.m. 9:00」.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28629. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28629
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28630. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28630
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28631. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28631
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28632. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28632
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28633. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28633
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28634. Cu, A862, 200℃, M, BF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28634
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28635. Cu, A862, 200℃, M, BF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28635
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28636. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28636
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28637. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28637
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28638. Cu, A862, 200℃, M, BF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28638
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28639. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28639
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28640. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28640
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　1枚番号合わず.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28641. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28641
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28642. Cu, A862, 200℃, M, BF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28642
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28643. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28643
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28644. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28644
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28645. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28645
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28646. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28646
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28647. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28647
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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