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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28648. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28648
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28649. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28649
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28650. Cu, A862, 200℃, M, BF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28650
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28651. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28651
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28652. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28652
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28653. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28653
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28654. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28654
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28655. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28655
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28656. Cu, A862, 200℃, M, ED., 1986. 8. 2. a.m. 9:00.

 アイテム
資料番号: O-28656
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: 1986. 8. 2. a.m. 9:00.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28657. Cu, A862, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28657
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ε.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28658. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28658
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ε.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28659. Cu, A862, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28659
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ε.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28660. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28660
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ε.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28661. Cu, A862, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28661
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ε.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28662. Cu, A862, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28662
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A862. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ε.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28663. Cu-2Si, G552, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28663
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28664. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28664
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28665. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28665
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28666. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28666
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28667. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28667
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28668. Cu-2Si, G552, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28668
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28669. Cu-2Si, G552, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28669
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28670. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28670
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28671. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28671
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28672. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28672
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28673. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28673
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28674. Cu-2Si, G552, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28674
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28675. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28675
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28676. Cu-2Si, G552, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28676
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28677. Cu-2Si, G552, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28677
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G552. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28678. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28678
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28679. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28679
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28680. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28680
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28681. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28681
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28682. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28682
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28683. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28683
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28684. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28684
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0　？.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28685. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28685
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28686. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28686
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28687. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28687
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28688. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28688
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28689. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28689
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28690. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, BF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28690
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28691. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28691
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)ｓ＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28692. Cu-2Ni, G732, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28692
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G732. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)完.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28693. Cu-2Sn, G672, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28693
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G672. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28694. Cu-2Sn, G672, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28694
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G672. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28695. Cu-2Sn, G672, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28695
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G672. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28696. Cu-2Sn, G672, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28696
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G672. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28697. Cu-2Sn, G672, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28697
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G672. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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