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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28748. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28748
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under 5steps.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28749. Ni, B174, 450℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28749
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28750. Ni, B174, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28750
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)?.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28751. Ni, B174, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28751
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28752. Ni, B174, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28752
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28753. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28753
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28753. Ni, B174, 450℃, SSS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28753
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28754. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28754
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28755. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28755
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28756. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28756
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)over 5 steps.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28757. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28757
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)under 5 steps.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28758. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28758
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28762. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28762
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28763. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28763
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over med小 1step.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28764. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28764
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)under med小 1step.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28765. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28765
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28766. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28766
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)over.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28767. Ni, B174, 450℃, SSS, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28767
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)under.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28768. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28768
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28769. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28769
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28770. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28770
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28771. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28771
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28772. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28772
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28773. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28773
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28774. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28774
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28775. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28775
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28776. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28776
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28777. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28777
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28778. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28778
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28779. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28779
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28780. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28780
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)E　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28781. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28781
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28782. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28782
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28783. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28783
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考) β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28784. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28784
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28785. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28785
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28786. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28786
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28787. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28787
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28788. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28788
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28789. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28789
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　 　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28790. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28790
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　 　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28791. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28791
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28792. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28792
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28793. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28793
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28794. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28794
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28795. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28795
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28796. Ni, B171, 200℃, SSS, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28796
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　　β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28797. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28797
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28798. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28798
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)F　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28799. Ni, B171, 200℃, SSS, BF, 31K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28799
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)G　　α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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