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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28850. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28850
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28851. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28851
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28852. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28852
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28853. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28853
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28854. Ni, B171, 200℃, SSS., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28854
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28855. Ni, B171, 200℃, SSS, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28855
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B171. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28856. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28856
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K.

(備考)voids.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28857. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28857
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K.

(備考)voids.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28858. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28858
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)voids.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28859. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28859
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s-0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28860. Ni, B174, 450℃, SSS, 42K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28860
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)B174. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)voidはdislocation近くのみ.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28861. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28861
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28862. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28862
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 (4).

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28863. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28863
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28864. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28864
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28865. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28865
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28866. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28866
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28867. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28867
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28868. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28868
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28869. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28869
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28870. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28870
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28871. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28871
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28872. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28872
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28873. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28873
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28874. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28874
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28875. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28875
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28876. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28876
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28877. Kohyama Ni, W., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28877
範囲と内容

(試料)Kohyama Ni. (照射量)W.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28878. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28878
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28879. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28879
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28880. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28880
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28881. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28881
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28882. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28882
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28883. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28883
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28884. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28884
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28885. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28885
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28886. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28886
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28887. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28887
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28888. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28888
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28889. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28889
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28890. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28890
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28891. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28891
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28892. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28892
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28893. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28893
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28894. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28894
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28895. Kohyma Ni, S., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28895
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28896. Kohyma Ni, S, ED., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28896
範囲と内容

(試料)Kohyma Ni. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28897. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, BF, 42K., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28897
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ダメ　厚すぎる.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28898. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, 42K., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28898
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28899. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, BF, 52K?., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28899
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K?. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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