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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29049. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29049
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29050. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29050
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29051. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29051
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29052. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29052
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29053. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29053
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓　s increase.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29054. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29054
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29055. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29055
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29056. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29056
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29057. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29057
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29058. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29058
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)δ 前面とG逆.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29059. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29059
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29060. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29060
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29061. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29061
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)↓ s increase.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29062. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29062
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29063. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29063
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29064. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29064
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29065. Cu-0.3Si, G572, 200℃, M, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29065
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G572. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29066. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29066
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29067. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29067
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29068. Cu, G871, 200℃, SS., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29068
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29069. Cu, G871, 200℃, SS, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29069
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29070. Cu, G871, 200℃, SS, DF., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29070
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29071. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29071
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29072. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29072
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29073. Cu, G871, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29073
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29074. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29074
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29075. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29075
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29076. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29076
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29077. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29077
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29078. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29078
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29079. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29079
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29080. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29080
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　β.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29081. Cu, G871, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29081
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29082. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29082
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29083. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29083
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29084. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

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資料番号: O-29084
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29085. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

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資料番号: O-29085
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29086. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月3日.]

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資料番号: O-29086
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C γ.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29087. Cu, G871, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日.]

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資料番号: O-29087
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29088. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

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資料番号: O-29088
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29089. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

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資料番号: O-29089
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s≧0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29090. Cu, G871, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日.]

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資料番号: O-29090
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29091. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29091
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29092. Cu, G871, 200℃, SS, BF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29092
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29093. Cu, G871, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29093
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29094. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29094
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29095. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29095
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29096. Cu, G871, 200℃, SS, ED., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29096
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29097. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29097
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-29098. Cu, G871, 200℃, SS, DF, 31K., [1986年8月3日.]

 アイテム
資料番号: O-29098
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)G871. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B.

日付: [1986年8月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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