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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5602. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5602
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5603. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5603
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5604. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5604
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5605. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5605
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5606. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5606
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5607. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5607
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5608. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5608
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5609. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5609
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5610. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5610
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5611. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5611
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5612. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5612
範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5613. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5613
範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5614. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5614
範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5615. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5615
範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5616. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5616
範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5617. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5617
範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5618. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5618
範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6196. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「60年5月7日」.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6197. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6198. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6199. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6200. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6201. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6202. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6203. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6204. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6205. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6206. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6207. Ni, A7　阿部, RTNS-II, 300K, S, ED., [昭和]60年5月7日.

 アイテム
資料番号: O-6207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A7　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和]60年5月7日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6208. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6208
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)electro polish.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6209. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6209
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6210. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6210
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6211. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6211
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6212. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6212
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6213. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6213
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6214. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6214
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6215. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6215
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6216. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6216
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6217. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6217
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6218. Ni, A1　阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6218
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A1　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6219. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6219
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6220. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6220
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6221. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6221
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6222. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6222
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6223. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6223
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6224. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6224
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6225. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6225
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6226. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6226
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6227. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6227
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6228. Ni, A13　阿部, RTNS-II, 300K, M, ED, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6228
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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