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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6229. Ni, A19　阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6229
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A19　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6230. Ni, A19　阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6230
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A19　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6231. Ni, A19　阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6231
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A19　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6232. Ni, A19　阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6232
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A19　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6233. Ni, A19　阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6233
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A19　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6234. Ni, A19　阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6234
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A19　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6235. Ni, A19　阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6235
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A19　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6236. Ni, A19　阿部, RTNS-II, 300K, W, ED., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6236
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A19　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6237. Ni, A26　阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6237
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6238. Ni, A26　阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6238
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6239. Ni, A26　阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6239
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6240. Ni, A26　阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6240
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6241. Ni, A26　阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6241
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6242. Ni, A26　阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6242
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6243. Ni, A26　阿部, RTNS-II, 300K, DF, 100K., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6243
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A26　阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6244., [1985年5月7日.]

 アイテム
資料番号: O-6244
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年5月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6245. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6245
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)松井は20K照射　室温観察. 日付元記載「5/8」.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6246. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6246
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6247. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6247
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6248. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6248
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6249. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6249
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6250. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6250
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6251. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6251
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6252. Ni, 松井, RTNS-II, 20K-->300K, S？, ED., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6252
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S？. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6253. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6253
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上12　赤2　　.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6254. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6254
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6255. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6255
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6256. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6256
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)ED.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6257. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6257
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6258. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6258
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上12　赤2.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6259. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6259
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)上12　赤2 JUST.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6260. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6260
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)上12　赤2 OVER.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6261. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6261
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)上12　赤2 UNDER.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6262. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6262
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6263. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6263
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6264. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6264
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6265. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6265
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6266. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6266
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6267. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6267
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s≒0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6268. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6268
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6269. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6269
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6270. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6270
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6271. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6271
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6272. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6272
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6273. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6273
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)-200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6274. Au, J784松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED., [昭和60/]5/8.

 アイテム
資料番号: O-6274
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J784松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上14　赤6.

日付: [昭和60/]5/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6295. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6295
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　RT　　　　　　　　　EM内焼鈍実験. 日付元記載「1985.5.8」.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6296. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6296
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　RT　.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6297. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6297
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6298. Ni, A794松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6298
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A794松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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