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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30051. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30051
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30052. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30052
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30053. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30053
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30054. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30054
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30055. Ni, A118, RTNS-II, 290℃, W, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30055
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A118. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30056. Ni, A099, RTNS-II, 290℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30056
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A099. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30057. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30057
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30058. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30058
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30059. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30059
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30060. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30060
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30061. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30061
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30062. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30062
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30063. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30063
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30064. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30064
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30065. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30065
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30066. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30066
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30067. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30067
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30068. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30068
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30069. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30069
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30070. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30070
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30071. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30071
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30072. Ni, A822, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30072
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A822. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30073. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30073
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30074. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30074
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30075. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30075
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30076. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30076
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30077. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30077
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30078. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30078
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30079. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30079
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30080. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30080
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30081. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30081
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30082. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, 52K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30082
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30083. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30083
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30084. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF, 100K., [1986年8月5日以降.]

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資料番号: O-30084
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30085. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

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資料番号: O-30085
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30086. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

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資料番号: O-30086
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30087. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 100K., [1986年8月5日以降.]

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資料番号: O-30087
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30088. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

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資料番号: O-30088
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30089. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, DF, 52K., [1986年8月5日以降.]

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資料番号: O-30089
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30090. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, BF., [1986年8月5日以降.]

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資料番号: O-30090
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30091. Ni-2Cu, A702, RTNS-II, 290℃, SS, ED., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30091
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30092. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S, BF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30092
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30093. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30093
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30094. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30094
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30095. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30095
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30096. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, BF, 21K., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30096
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)よごれあり.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30097. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30097
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-30098. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W., [1986年8月5日以降.]

 アイテム
資料番号: O-30098
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W.

日付: [1986年8月5日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32238. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., 1968. 10. 9.

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資料番号: O-32238
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1968. 10. 9.」.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32239. Cu, A863, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., 1968. 10. 9.

 アイテム
資料番号: O-32239
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A863. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1968. 10. 9.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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