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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32290. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32290
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32291. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32291
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32292. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32292
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32293. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32293
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32294. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32294
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32295. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32295
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32296. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32296
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32297. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32297
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32298. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32298
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32299. Cu-2Sn, G673, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32299
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G673. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32300. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32300
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32301. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32301
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32302. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32302
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32303. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32303
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32304. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32304
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32305. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32305
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32306. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32306
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32307. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32307
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32308. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32308
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32309. Cu-2Ge, G613, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32309
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G613. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32310. Fe, A267, RTNS-II, BD, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32310
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)A267. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)52K.

(備考)contamination多い.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32311. Fe, A267, RTNS-II, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32311
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A267. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32312. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32312
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上8（-）黒9（40）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32313. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32313
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32314. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32314
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32315. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32315
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32316. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32316
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32317. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32317
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32318. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32318
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上1（-）黒8（320）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32319. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32319
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32320. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32320
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32321. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32321
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32322. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32322
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32323. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32323
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下3.5（＋）赤2（10）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32324. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32324
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32325. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32325
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32326. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32326
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32327. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32327
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32328. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32328
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32329. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32329
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32330. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32330
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32331. Cu-0.3Si, G573, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32331
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G573. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32332. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32332
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

(備考)上1（-）赤10（180）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32333. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32333
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32334. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32334
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32335. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32335
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32336. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32336
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32337. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32337
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32338. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32338
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下9.5（＋）赤13（100）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32339. Cu-0.3Ge, G633, RTNS-II, 200℃, WW, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32339
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (試料番号)G633. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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