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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32390. Cu-0.3Ni, G753, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32390
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G753. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32391. Cu-0.3Ni, G753, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32391
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G753. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32392. Cu-0.3Ni, G753, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32392
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G753. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32393. Cu-0.3Ni, G753, RTNS-II, 200℃, WW, BF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32393
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G753. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32394. Cu-0.3Ni, G753, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32394
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G753. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32395. Cu-0.3Ni, G753, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32395
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G753. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32396. Cu-0.3Ni, G753, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32396
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G753. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32397. Cu-0.3Ni, G753, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32397
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G753. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32398. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32398
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)void contrast.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32399. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 21K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32399
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32400. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32400
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32401. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32401
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32402. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32402
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32403. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32403
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32404. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32404
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32405. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 21K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32405
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32406. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 21K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32406
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)同じgrain　隣の視野　Voidあり.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32407. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 21K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32407
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32408. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 21K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32408
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32409. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32409
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32410. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32410
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32411. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32411
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32412. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32412
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32413. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32413
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32414. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32414
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32415. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, DF, 21K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32415
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32416. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 21K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32416
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32417. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32417
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32418. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32418
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32419. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32419
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32420. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32420
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32421. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32421
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32422. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32422
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32423. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

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資料番号: O-32423
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32424. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

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資料番号: O-32424
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32425. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

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資料番号: O-32425
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32426. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

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資料番号: O-32426
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32427. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32427
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32428. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32428
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32429. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32429
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)α　-18　赤3-6（240）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32430. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32430
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32431. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32431
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32432. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32432
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32433. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32433
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32434. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32434
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32435. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32435
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　22.5　黒0～3（260）.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32436. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32436
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　A.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32437. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32437
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　B.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32438. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32438
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　C.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32439. Ni-2Si, G303, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32439
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)G303. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　D.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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