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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32691. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32691
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32692. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32692
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32693. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32693
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32694. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32694
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32695. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32695
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32696. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32696
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32697. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32697
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32698. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32698
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32699. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32699
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32700. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32700
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32701. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32701
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32702. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32702
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS.

(備考)B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32703. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32703
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32704. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32704
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32705. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32705
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　　ST.2　　-17　赤6（320）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32706. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32706
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32707. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32707
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32708. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32708
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A　　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32709. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32709
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32710. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32710
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32711. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32711
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32712. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32712
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32713. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32713
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32714. DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32714
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32715. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32715
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1　　-4　黒9（300）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32716. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32716
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32717. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32717
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32718. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32718
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32719. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32719
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32720. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32720
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32721. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32721
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32722. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32722
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32723. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32723
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　　＋3.5　黒13（340）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32724. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32724
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32725. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

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資料番号: O-32725
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32726. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, ED., [1968年10月10日.]

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資料番号: O-32726
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32727. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32727
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32728. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32728
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32729. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32729
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32730. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32730
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)厚い.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32731. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32731
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別のgrain.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32732. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32732
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32733. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32733
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32734. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32734
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32735. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32735
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32736. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32736
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32737. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32737
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32738. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32738
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1　　-20　赤6（40）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32739. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32739
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32740. Cu-0.3Si, G574, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32740
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G574. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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