メインコンテンツへスキップ

電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

 主題

関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32991. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32991
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-9 赤0～3（60）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32992. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32992
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32993. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32993
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32994. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32994
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32995. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32995
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32996. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32996
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　＋3　黒3～6（60）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32997. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32997
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32998. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32998
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32999. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32999
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33000. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, ED, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33000
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33001. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33001
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33002. Ni, B263, RTNS-II, 200℃, M, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33002
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B263. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33003. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33003
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　　＋2、赤0～3（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33004. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33004
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33005. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33005
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33006. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33006
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33007. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33007
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　＋10.5　赤9～12（180）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33008. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33008
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33009. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33009
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33010. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33010
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33011. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33011
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33012. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33012
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33013. Ni, B261, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33013
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B261. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33014. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33014
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)S＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33015. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33015
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33016. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33016
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33017. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33017
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33018. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33018
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33019. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33019
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33020. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33020
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33021. Au, A479, RTNS-II, 200℃, SSS, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33021
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A479. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33022. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33022
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33023. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33023
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33024. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33024
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)下8.5（＋）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33025. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33025
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)黒3（320）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33026. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33026
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33027. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33027
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33028. Au, A417, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33028
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A417. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33029. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33029
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上4.5（-）　黒1（120）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33030. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33030
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33031. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33031
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33032. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33032
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33033. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33033
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33034. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33034
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33035. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33035
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33036. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33036
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33037. Au, A424, RTNS-II, 450℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33037
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A424. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33038. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33038
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33039. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33039
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33040. Au, A449, RTNS-II, 200℃, W, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33040
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A449. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

Powered by ArchivesSpace v4.1.1 | 京都大学研究資源アーカイブホームページ