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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33191. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33191
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)上5（-）赤12（60）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33192. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33192
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33193. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33193
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33194. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33194
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0　(2).

(備考)　　　↘ｇ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33195. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33195
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　(3).

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33196. Au-60Ag, G566, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33196
範囲と内容

(試料)Au-60Ag. (試料番号)G566. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33197. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33197
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　-7.5　赤0～＋（120）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33198. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33199. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33200. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33201. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33202. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33202
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33203. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33204. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33205. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　　0、　黒0～3＋（300）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33206. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33207. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33208. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33208
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33209. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33209
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33210. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33210
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33211. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33211
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33212. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33212
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33213. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33213
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33214. Ni, B268, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33214
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B268. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33215. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33215
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　-8　赤0～3（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33216. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33216
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33217. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33217
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33218. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33218
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33219. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33219
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33220. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33220
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33221. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33221
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33222. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33222
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　0、黒12～15（100）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33223. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33223
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33224. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33224
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33225. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33225
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33226. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33226
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33227. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33227
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33228. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33228
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33229. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33229
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33230. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33230
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33231. Ni, B267, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33231
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B267. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33232. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33232
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33233. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33233
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33234. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33234
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33235. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33235
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33236. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 31K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33236
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33237. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33237
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33238. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33238
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33239. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33239
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33240. Ni, B146, RTNS-II, 200℃, W, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33240
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)B146. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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