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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6450. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, DE, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6451. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上（-）9　　赤5.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6452. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, 310K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)310K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6453. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)上（-）9　　0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6454. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6455. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6455
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6456. Ni, 阿部, RTNS-II, 300K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6456
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6458. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, DF, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6458
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6459. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6459
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6460. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6460
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6461. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6461
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6462. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6462
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6463. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6463
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6464. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6464
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6465. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6465
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6466. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6466
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6467. Fe, UK414吉田, RTNS-II, 475K, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6467
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)UK414吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)475K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6468. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6468
範囲と内容

(試料)Fe. (EM/D3)EM. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6469. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 210K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6469
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6470. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6470
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6471. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6471
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0　　　3.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6472. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6472
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6473. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6473
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)上10,　　00.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6474. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6474
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0　　　5.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6475. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6475
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6476. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6476
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6477. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6477
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)上17,　　00.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6478. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6478
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)メインの系列に直行のスポット使う.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6479. Fe, B452松井, RTNS-II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6479
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B452松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6480. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6480
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6481. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->301K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6481
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞301K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6482. Fe, B451松井, RTNS-II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6482
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B451松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6483. Fe, A901阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6483
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A901阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6484. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6484
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)D3. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)Fring.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6485. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6485
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6486. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6486
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6487. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 200K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6487
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6488. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6488
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6489. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6489
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6490. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6490
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6491. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6491
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)Just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6492. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6492
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)Just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6493. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6493
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)1 step over.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6494. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6494
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0 .

(備考)2 step undr.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6495. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6495
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6496. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6496
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6497. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6497
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6498. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF, 52K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6498
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)Medi小 1 step over.

(備考)α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6499. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, DF., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6499
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)Medi小 2 step under.

(備考)α.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6500. SUS316, A401阿部, RTNS-II, 300K, SS, ED., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6500
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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