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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6551. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 16K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6551
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6552. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 11K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6552
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6553. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 8K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6553
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

(備考)low mag.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6554. Fe, A905阿部, RTNS-II, 300K, BF, 8K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6554
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A905阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6555., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6555
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6556. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6556
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)electro polishi TEM内焼鈍 RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6557. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6557
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6558. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6558
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6559. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6559
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6560. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6560
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6561. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6561
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6562. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6562
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6563. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, ED, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6563
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)100K.

(備考)RT.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6564. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6564
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6565. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6565
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6566. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6566
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6567. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6567
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6568. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6568
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6569. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6569
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6570. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6570
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)50℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6571. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6571
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6572. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6572
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6573. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6573
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6574. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6574
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)100℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6575. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6575
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6576. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6576
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6577. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6577
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6578. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6578
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6579. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6579
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6580. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6580
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6581. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6581
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6582. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6582
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)200℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6583. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6583
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6584. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6584
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6585. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6585
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6586. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6586
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6587. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6587
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)250℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6588. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6588
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6589. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6589
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6590. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6590
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6591. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6591
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6592. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6592
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6593. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6593
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-6594. Ni, A13阿部, RTNS-II, 300K, M., [1985年5月8日.]

 アイテム
資料番号: O-6594
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A13阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (反射ベクトルg)s＝0.

(備考)300℃.

日付: [1985年5月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7326. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7326
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)Fringe. 日付元記載「6/13」.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7327. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, ED., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7327
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7328. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7328
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7329. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7329
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7330. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7330
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7331. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, ED., [昭和60/]6/13.

 アイテム
資料番号: O-7331
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]6/13.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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