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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37044. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37044
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37045. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37045
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37046. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37046
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37047. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37047
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37048. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37048
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37049. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37049
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　上16（-）赤2（120）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37050. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37050
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37051. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37051
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37052. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37052
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37053. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37053
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37054. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37054
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37055. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37055
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37056. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37056
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β’上16（-）赤2（220）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37057. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37057
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37058. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37058
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37059. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37059
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37060. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37060
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37061. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37061
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37062. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37062
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α’　下7.5（-）赤21（140）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37063. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37063
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37064. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37064
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37065. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37065
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37066. Au, AD212, RTNS-II, RT, W., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37066
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37067. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37067
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37068. Au, AD212, RTNS-II, RT, W, LM., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37068
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD212. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)W. (条件・倍率等)LM.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37069. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37069
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37070. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37070
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37071. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37071
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-18赤6.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37072. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37072
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37073. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37073
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37074. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37074
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37075. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37075
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β　-8.5赤3～6（80）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37076. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37076
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37077. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37077
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37078. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37078
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37079. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37079
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37080. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37080
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37081. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37081
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)D　α　　18赤9～12（100）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37082. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37082
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37083. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37083
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　α　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37084. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37084
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-11.5赤6～9（180）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37085. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37085
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37086. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37086
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37087. Ni, λ115　木下, RTNS-II, RT, WW, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37087
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ115　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)FとDの間.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37088. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

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資料番号: O-37088
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-13黒12～15（150）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37089. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37089
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37090. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37090
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)Bのとなり.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37091. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37091
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　　β　　-8.5黒6～9（260）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37092. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37092
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37093. Ni, A064, RTNS-II, 150℃, W, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37093
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A064. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　β.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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