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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37144. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37144
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37145. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37145
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37146. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37146
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37147. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37147
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37148. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37148
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α’　下23.5（＋）黒5（250）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37149. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37149
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37150. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37150
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37151. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37151
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37152. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37152
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37153. Au, AD228　Abe, RTNS-II, RT, WW, LM., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37153
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AD228　Abe. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)LM.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37156. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 21K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37156
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37157. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 21K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37157
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37158. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37158
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37159. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37159
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37160. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37160
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37161. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37161
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37162. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37162
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37163. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37163
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37164. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37164
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37165. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, ↓., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37165
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37166. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37166
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37167. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37167
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37168. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37168
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37169. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37169
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)on　GB.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37170. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37170
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)on　dislocation.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37171. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37171
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)on　dislocation.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37172. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37172
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　　ｓｔ.1　-1.50（0）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37173. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37173
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)B　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37174. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37174
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37175. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37175
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37176. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37176
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　傾き同じ.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37177. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37177
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37178. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37178
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37179. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37179
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)C　　st.2　-5赤6.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37180. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37180
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37181. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37181
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B?.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37182. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37182
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37183. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37183
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37184. Cu, A774, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37184
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A774. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.2　1　隣dislocaionなし　.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37185. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37185
範囲と内容

(試料)Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)HVEM用　A　　st.1　-2.5赤18（100）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37186. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37186
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37187. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37187
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37188. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37188
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37189. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37189
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37190. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37190
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)内部.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37191. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37191
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37192. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 100K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37192
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37193. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37193
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37194. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, DF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37194
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A　　st.2　-10.5赤13（210）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37195. Cu, A735, RTNS-II, 200℃, M, BF, 42K., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37195
範囲と内容

(試料)Cu. (試料番号)A735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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