電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7332. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7332

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7333. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7333

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7334. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7334

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7335. SUS316, A413阿部, RTNS-II, 300K, M, ED., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7335

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A413阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7336. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7336

範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7337. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7337

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7338. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7338

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)s＞0 .

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7339. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7339

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7340. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7340

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7341. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7341

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7342. SUS316, J353松井, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7342

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J353松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7343. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7343

範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7344. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7344

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7345. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7345

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7346. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7346

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7347. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7347

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7348. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7348

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over fine 大3つ.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7349. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7349

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)under　fine　小3つ.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7350. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [昭和60/]6/13.

アイテム

資料番号: O-7350

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和60/]6/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7351. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7351

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)s＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7352. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 100K., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7352

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7353. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 52K., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7353

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7354. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, ED., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7354

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)s＞＞＞0 .

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7355. SUS316, J354, RTNS-II, 20K-->300K, DF, 31K., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7355

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)J354. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7356. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7356

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7357. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7357

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7358. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7358

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7359. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7359

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7360. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7360

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7361. SUS316, A419阿部, RTNS-II, 300K, W, ED., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7361

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A419阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7362., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7362

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7363., [1985年6月13日.]

アイテム

資料番号: O-7363

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7364. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7364

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7365. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7365

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7366. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, DF, 100K., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7366

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7367. SUS316, A426阿部, RTNS-II, 300K, WW, ED., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7367

範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A426阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7368., [1985年6月13日.]

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資料番号: O-7368

範囲と内容コレクション：　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...

日付: [1985年6月13日.]