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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7382. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7382
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7383. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7383
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7384. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7384
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7385. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7385
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7386. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7386
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7387. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7387
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7388. Au, J814松井, RTNS-II, 20K-->300K, M, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7388
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J814松井. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7389. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7389
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7390. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7390
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7391. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7391
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7392. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7392
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7393. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7393
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7394. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7394
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7395. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7395
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7396. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7396
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7397. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7397
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7398. Au, J822松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7398
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J822松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7399. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7399
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7400. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7400
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7401. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7401
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7402. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7402
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7403. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7403
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7404. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7404
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7405. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7405
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7406. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7406
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7407. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7407
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7408. Au, J806松井, RTNS=II, 20K-->300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7408
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J806松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7409. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7409
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7410. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7410
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7411. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7411
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7412. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7412
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7413. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7413
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7414. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7414
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7415. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7415
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7416. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7416
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7417. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7417
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7418. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7418
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7419. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7419
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7420. Au, J826松井, RTNS=II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7420
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J826松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7421. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7421
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7422. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7422
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7423. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7423
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7424. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7424
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7425. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7425
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7426. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7426
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7427. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7427
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7428. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7428
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7429. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7429
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7430. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7430
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7431. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7431
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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