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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7432. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7432
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7433. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7433
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7434. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7434
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7435. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7435
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)Just.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7436. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7436
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)over fine　大2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7437. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7437
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under　fine　小2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7438. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7438
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7439. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7439
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7440. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7440
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7441. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7441
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7442. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7442
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7443. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7443
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)Just.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7444. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7444
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)over fine　大2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7445. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7445
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS.

(備考)under　fine　小2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7446. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7446
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7447. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7447
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボケ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7448. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7448
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7449. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7449
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7450. SUS316, A401阿部, RTNS=II, 300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7450
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A401阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7451. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7451
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)日付元記載「6/14」.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7452. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7452
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7453. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7453
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7454. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7454
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7455. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7455
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7456. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7456
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7457. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7457
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7458. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7458
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7459. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7459
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7460. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7460
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)over fine　大2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7461. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7461
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)under　fine　小2つ.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7462. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7462
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7463. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7463
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7464. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7464
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7465. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7465
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7466. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7466
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7467. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 210K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7467
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7468. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7468
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)上と少しずれる.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7469. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7469
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S.

(備考)Fringe.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7470. SUS316, A409阿部, RTNS=II, 300K, S, DF, 210K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7470
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)A409阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7471. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7471
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7472. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7472
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7473. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7473
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7474. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7474
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7475. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7475
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7476. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7476
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7477. Au, A781松井 , RTNS=II, 20K-->300K, SS, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7477
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A781松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7478. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7478
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7479. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7479
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7480. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7480
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7481. Au, A784松井 , RTNS=II, 20K-->300K, S., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7481
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A784松井 . (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)S.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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