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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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関係者用
件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7632. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7632
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7633. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7633
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7634. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7634
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7635. Ni, A23, RTNS=II, 200K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7635
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7636. Ni, A23, RTNS=II, 200K, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7636
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A23. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)200K. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7637. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M, 100K., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7637
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7638. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7638
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7639. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7639
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7640. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7640
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7641. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7641
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7642. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7642
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7643. Ni, A510松井, RTNS=II, 20K-->300K, M, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7643
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A510松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7644. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7644
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7645. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7645
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7646. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7646
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7647. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7647
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

(備考)2枚.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7648. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7648
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7649. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7649
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7650. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7650
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7651. Ni, A519松井, RTNS=II, 20K-->300K, W, ED., [1985年6月13日.]

 アイテム
資料番号: O-7651
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A519松井. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)20K--＞300K. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7985. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7985
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)日付元記載「60/6/26」.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7986. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7986
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7987. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7987
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7988. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7988
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7989. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 210K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7989
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7990. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, ED., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7990
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)上2.1　赤の12-15　180.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7991. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7991
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7992. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7992
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7993. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 210K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7993
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7994. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, ED., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7994
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7995. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7995
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7996. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7996
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)隣のgrain.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7997., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7997
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7998. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, ED., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7998
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)隣のgrain.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-7999. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-7999
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8000. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8000
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8001. Ni., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8001
範囲と内容

(試料)Ni.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8002. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, ED., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8002
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)上の15　赤6-9　60.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8003. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8003
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)fringe.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8004. Ni, A-8阿部, RTNS=II, 300K, DF, 100K., [昭和]60/6/26.

 アイテム
資料番号: O-8004
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [昭和]60/6/26.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8005. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8005
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8006. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8006
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8007. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8007
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8008. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8008
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8009. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8009
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8010. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8010
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8011. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8011
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8012. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8012
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8013. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8013
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8014. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8014
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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