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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8065. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8065
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8066. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8066
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8067. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8067
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8068. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8068
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8069. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8069
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8070. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8070
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8071. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8071
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8072. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8072
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8073. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8073
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8074. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8074
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

(備考)ｓ小へ.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8075. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8075
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8076. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8076
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8077. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8077
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8078. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8078
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8079. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8079
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8080. Au, λ102木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8080
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)λ102木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8081. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8081
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8082. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8082
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8083. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8083
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8084. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8084
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8085. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8085
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8086. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8086
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8087. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8087
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8088. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8088
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8089. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8089
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)少しずつ動かす.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8090. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8090
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8091. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8091
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8092. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8092
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8093. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8093
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8094. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8094
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8095. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8095
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8096. Au, λ125木下, RTNS=II, 300K, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8096
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)λ125木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)300K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)81より.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8097. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8097
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

(備考)引張2％.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8098. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8098
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8099. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8099
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8100. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8100
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8101. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8101
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8102. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8102
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8103. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8103
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8104. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 8K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8104
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8105. Ni, RTNS=II, 77K, WW, BF, 31K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8105
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)77K. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)再ケンマの必要あり.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8106. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8106
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8107. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8107
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8108. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8108
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8109. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8109
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8110. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8110
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8111. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8111
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8112. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8112
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8113. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8113
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8114. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8114
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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