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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8115. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8115
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8116. SUS, λ132木下, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8116
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)λ132木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8117. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 52K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8117
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8118. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8118
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8119. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8119
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8120. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8120
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8121. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8121
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8122. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8122
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8123. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8123
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8124. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8124
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8125. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8125
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8126. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8126
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8127. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8127
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8128. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8128
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)ぼつ.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8129. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS, Fringe　DF, 100K., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8129
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)Fringe　DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8130. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8130
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8131. Ni, A-8阿部, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8131
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-8阿部. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8132. Ni, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8132
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8133. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8133
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8134. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8134
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8135. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8135
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8136. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8136
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8137. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8137
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8138. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8138
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8139. Au, J875木下, RTNS=II, RT, M, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8139
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J875木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8140. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8140
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)just.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8141. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8141
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8142. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8142
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8143. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8143
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8144. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8144
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8145. Au, J878木下, RTNS=II, RT, WW., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8145
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J878木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8146. Au, RTNS=II, WW, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8146
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8147. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8147
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8148. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8148
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8149. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8149
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8150. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8150
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8151. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8151
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8152. Au, RTNS=II., [1985年6月26日.]

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資料番号: O-8152
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8153. Au, RTNS=II, ED., [1985年6月26日.]

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資料番号: O-8153
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)RTNS＝II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8154. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

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資料番号: O-8154
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8155. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8155
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8156. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8156
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8157. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

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資料番号: O-8157
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8158. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8158
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8159. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8159
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)JUST.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8160. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8160
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)隣の視野.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8161. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8161
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8162. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8162
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8163. Au, J872木下, RTNS=II, RT, SS., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8163
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)J872木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8164. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8164
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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