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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8165. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8165
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8166. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8166
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8167. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8167
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8168. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8168
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8169. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8169
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8170. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8170
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8171. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8171
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)4.5.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8172. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8172
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8173. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8173
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8174. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8174
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

(備考)SFTあり.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8175. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8175
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8176. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8176
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8177. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8177
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8178. Ni, λ114木下, RTNS=II, RT, W, ED., [1985年6月26日.]

 アイテム
資料番号: O-8178
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ114木下. (照射条件)RTNS＝II. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8179. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8179
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8180. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8180
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8181. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8181
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8182. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8182
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8183. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8183
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8184. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8184
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8185. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8185
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8186. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8186
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8187. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8187
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8188. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8188
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8189. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8189
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8190. Ni, A704木下, RTNS-II, WW., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8190
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8191. Ni, A704木下, RTNS-II, WW, ED., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8191
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A704木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8192. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8192
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

(備考)汚れ 薄い.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8193. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8193
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8194. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8194
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8195. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8195
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8196. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8196
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8197. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8197
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8198. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8198
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8199. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8199
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8200. Ni, λ111木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8200
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8201. Ni, λ111木下, RTNS-II, M, ED., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8201
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)λ111木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8202. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8202
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8203. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8203
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8204. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8204
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8205. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8205
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8206. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8206
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8207. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8207
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8208. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8208
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8209. Ni, A695木下, RTNS-II, W., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8209
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8210. Ni, A695木下, RTNS-II, W, ED., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8210
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A695木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8211. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8211
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8212. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8212
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8213. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8213
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8214. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8214
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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