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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8215. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8215
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8216. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8216
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8217. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8217
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8218. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8218
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

(備考)同じ視野.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8219. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8219
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8220. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8220
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8221. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8221
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8222. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8222
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8223. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8223
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8224. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8224
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8225. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8225
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8226. Ni, A726木下, RTNS-II, M., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8226
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)M.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8227. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8227
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8228. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8228
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8229. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8229
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8230. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8230
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8231. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8231
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8232. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8232
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8233. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8233
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8234. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8234
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8235. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8235
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8236. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8236
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8237. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8237
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8238. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8238
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8239. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8239
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8240. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, DF, 100K., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8240
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞＞0.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8241. SUS316, λ133木下, RTNS-II, S, ED, 57cm., [1985年6月26日以降.]

 アイテム
資料番号: O-8241
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)λ133木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年6月26日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8509. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8509
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)日付元記載「7/8」.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8510. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8510
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8511. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8511
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8512. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8512
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8513. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8513
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8514. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8514
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8515. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8515
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8516. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8516
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8517. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8517
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8518. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8518
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8519. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8519
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8520. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8520
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8521. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8521
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8522. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8522
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8523. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8523
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8524. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8524
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8525. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8525
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8526. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8526
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8527. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8527
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8528. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8528
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8529. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8529
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8530. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8530
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8531. Ni, 木下, RTNS-II, S., [1985]7/8.

 アイテム
資料番号: O-8531
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

日付: [1985]7/8.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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