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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57656. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57656
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57657. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57657
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57658. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57658
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57659. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57659
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57660. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 10K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57660
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57661. Fe-0.1Cr, JMTRcontrolled, 200℃, ED., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57661
範囲と内容

(試料)Fe-0.1Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57662. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57662
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57663. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57663
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57664. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57664
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57665. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 33K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57665
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57666. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 10K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57666
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57667. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, BF, 10K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57667
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57668. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57668
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57668. Ni-0.05Sn, JMTR, BF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57668
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)old　EM　-25黒6. 日付元記載「平成元年 7月 24日」.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57669. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57669
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57669. Ni-0.05Sn, JMTR, DF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57669
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57670. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 50K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57670
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57670. Ni-0.05Sn, JMTR, BF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57670
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)別のgrain.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57671. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 33K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57671
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57671. Ni-0.05Sn, JMTR, DF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57671
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57672. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 10K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57672
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57672. Ni-0.05Sn, JMTR, DF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57672
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)同じ視野.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57673. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, BF, 10K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57673
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57673. Ni-0.05Sn, JMTR, BF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57673
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)同じ視野.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57674. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, ED., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57674
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57674. Ni-0.05Sn, JMTR, ED., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57674
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57675. Fe-2Mn, JMTRcontrolled, 200℃, ED., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57675
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57675. Ni-0.05Sn, JMTR, DF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57675
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)　-33黒6　上と同じ視野があればstereo.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57676. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57676
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57676. Ni-0.05Sn, JMTR, DF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57676
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57677. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57677
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57677. Ni-0.05Sn, JMTR, DF, 52K., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57677
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57678. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 33K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57678
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57678. Ni-0.05Sn, JMTR, ED., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57678
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57679. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57679
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57679. Ni-0.05Sn, JMTR, BF., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57679
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57680. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 10K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57680
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57680. Ni-0.05Sn, JMTR, BF., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57680
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57681. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 10K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57681
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57681. Ni-0.05Sn, JMTR, BF., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57681
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57682. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, ED., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57682
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57682. Ni-0.05Sn, JMTR, BF., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57682
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57683. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57683
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57683. Ni-0.05Sn, JMTR, BF., 平成元年 7月 24日.

 アイテム
資料番号: O-57683
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: 平成元年 7月 24日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57684. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57684
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57684. Ni-0.05Si, JMTR, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57684
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)　-10赤1　st.1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57685. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 25K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57685
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57685. Ni-0.05Si, JMTR, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57685
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)　st.1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57686. Fe-0.4Cr, JMTRcontrolled, 200℃, DF, 33K., [1993年2月3日.]

 アイテム
資料番号: O-57686
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Cr. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)33K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月3日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57686. Ni-0.05Si, JMTR, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57686
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)　st.1.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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