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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57838. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, DF, 25K., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57838
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57838. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57838
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57839. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, DF, 25K., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57839
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57839. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57839
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)内部.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57840. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, DF, 25K., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57840
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57840. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 160K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57840
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57841. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, BF, 25K., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57841
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57841. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57841
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)内部.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57842. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, BF, 25K., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57842
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57842. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57842
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57843. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, BF, 10K., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57843
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57843. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 80K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57843
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)void.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57844. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, DF, 10K., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57844
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57844. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57844
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57845. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, ED., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57845
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57845. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57845
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57846. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57846
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57846. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57846
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57847. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57847
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57847. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57847
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57848. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57848
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57848. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57848
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57849. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57849
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57849. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57849
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57850. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57850
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57850. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57850
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大中.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57851. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57851
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57851. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57851
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57852. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, BF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57852
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57852. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57852
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57853. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, BF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57853
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57853. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57853
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57854. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, 10K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57854
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57854. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57854
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57855. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, 10K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57855
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57855. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57855
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57856. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 10K., [1993年2月5日.]

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資料番号: O-57856
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57856. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57856
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57857. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 10K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57857
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57857. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57857
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57858. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, ED., [1993年2月5日.]

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資料番号: O-57858
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57858. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57858
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57859. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57859
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57860. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57860
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)GBのボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57861. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57861
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57862. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57862
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57863. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57863
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57864. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57864
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57865. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57865
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57866. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57866
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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