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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3961. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3961
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3962. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3962
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3963. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3963
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3964. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

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資料番号: O-3964
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3965. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, DF, 52K., [1984年5月9日.]

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資料番号: O-3965
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3966. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, ED., [1984年5月9日.]

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資料番号: O-3966
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3967. Ni, A6, RTNS-II　Abe, RT, S, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3967
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A6. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3968. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, BF, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3968
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3969. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3969
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3970. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3970
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3971. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3971
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3972. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3972
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3973. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3973
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3974. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3974
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3975. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3975
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3976. Ni, A20, RTNS-II　Abe, RT, WW, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3976
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A20. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3977. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3977
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3978. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, 9.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3978
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (条件・倍率等)9.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3979. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3979
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3980. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, BF, 3.7K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3980
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)3.7K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3981. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, BF, 11K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3981
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3982. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3982
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3983. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3983
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3984. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3984
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3985. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3985
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3986. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, DF, 52K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3986
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3987. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3987
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-3988. Ni, A16, RTNS-II　Abe, RT, W, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-3988
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A16. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)TW　2%(RT).

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4156. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4156
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4157. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4157
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4158. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4158
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4159. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4159
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4160. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4160
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4161. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4161
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4162. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4162
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4163. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, BD, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4163
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BD. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4164. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4164
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4165. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4165
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4166. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4166
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4167. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4167
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4168. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4168
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4169. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4169
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4170. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4170
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4171. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4171
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4172. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, DF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4172
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4173. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4173
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4174. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4174
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4175. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4175
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4179. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, ED., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4179
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4180. Au, A205, RTNS-II　Abe, RT, SS, BF, 100K., [1984年5月9日.]

 アイテム
資料番号: O-4180
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)D3. (試料番号)A205. (照射条件)RTNS-II　Abe. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1984年5月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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