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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8732. Ni, A677木下, RTNS-II, W, ED., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8732
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8733. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8733
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8734. Ni, A677木下, RTNS-II, W, DF., [19]85/11/16.

 アイテム
資料番号: O-8734
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A677木下. (照射条件)RTNS-II. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E.

日付: [19]85/11/16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8735. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8735
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D3 annealed and polished again.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8736. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8736
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8737. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8737
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8738. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8738
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8739. Ni, A726木下, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8739
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)Fringe.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8740. Ni, A726木下, RTNS-II, ED, 52cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8740
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A726木下. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)52cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8741. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8741
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

(備考)After 300°5min.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8742. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8742
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8743. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8743
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8744. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8744
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8745. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8745
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8746. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8746
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8747. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8747
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8748. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8748
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8749. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8749
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8750. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8750
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8751. Fe, B497松井, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8751
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)B497松井. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8752. DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8752
範囲と内容

(Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8753. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8753
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)After 300℃ 5 min.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8754. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8754
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8755. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8755
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8756. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8756
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8757. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8757
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8758. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8758
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8759. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8759
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8760. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8760
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8761. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, BF., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8761
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8762. Fe, A902阿部, RTNS-II, SS, ED., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8762
範囲と内容

(試料)Fe. (試料番号)A902阿部. (照射条件)RTNS-II. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8763. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8763
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

(備考)Polishied after annealing experiment.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8764. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8764
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

(備考)A726 ?.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8765. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8765
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8766. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8766
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8767. Ni, A476, RTNS-II., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8767
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8768. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8768
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8769. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8769
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8770. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8770
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8771. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8771
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8772. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8772
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8773. Ni, A476, RTNS-II, BF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8773
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8774. Ni, A476, RTNS-II, DE, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8774
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8775. Ni, A476, RTNS-II, DF, 800K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8775
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)800K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8776. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8776
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8777. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8777
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8778. Ni, A476, RTNS-II, ED, 57cm., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8778
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8779. Ni, A476, RTNS-II, DF, 52K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8779
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8780. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8780
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-8781. Ni, A476, RTNS-II, DF, 100K., [1985年11月16日.]

 アイテム
資料番号: O-8781
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A476. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年11月16日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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