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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58715. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58715
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58716. Fe0.1Mn, BF, 80K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58716
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

(備考)ボイド　ずらし.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58716. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58716
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58717. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58717
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)X.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58717. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58717
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58718. Fe0.1Mn, ED, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58718
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)25K.

(備考)X.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58718. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58718
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（100）面.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58719. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58719
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58719. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58719
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58720. Fe0.1Mn, ED, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58720
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58720. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58720
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58721. Fe0.1Mn, DF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58721
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58721. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58721
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58722. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58722
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58722. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58722
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58723. Fe0.1Mn, DF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58723
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58723. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58723
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58724. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58724
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58724. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58724
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58725. Fe0.1Mn, DF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58725
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58725. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58725
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58726. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58726
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58726. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58726
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58727. Fe0.1Mn, DF, 25K., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58727
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58727. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58727
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58728. Fe0.1Mn, ED., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58728
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58728. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58728
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58729. Fe0.1Mn, BF., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58729
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58729. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 42K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58729
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58730. Fe0.1Mn, BF., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58730
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58730. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58730
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58731. Fe0.1Mn, ED., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58731
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58731. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58731
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58732. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58732
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58733. Fe0.4Mn, BF, 17K., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58733
範囲と内容

(試料)Fe0.4Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)17K.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58733. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58733
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58734. Fe0.4Mn, ED., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58734
範囲と内容

(試料)Fe0.4Mn. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58734. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58734
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58735. Fe0.4Mn, BF, 17K., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58735
範囲と内容

(試料)Fe0.4Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)17K.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58735. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58735
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58736. Fe0.4Mn, ED., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58736
範囲と内容

(試料)Fe0.4Mn. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58736. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58736
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58737. Fe0.4Mn, BF, 25K., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58737
範囲と内容

(試料)Fe0.4Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58737. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58737
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58738. Fe0.4Mn, DF, 25K., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58738
範囲と内容

(試料)Fe0.4Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58738. Ni-0.05Sn, N234, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58738
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)N234. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58739. Fe0.4Mn, DF, 25K., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58739
範囲と内容

(試料)Fe0.4Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58739. Ni-0.05Sn, N234, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58739
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (試料番号)N234. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58740. Fe0.4Mn, DF, 25K., [1993年7月27日.]

 アイテム
資料番号: O-58740
範囲と内容

(試料)Fe0.4Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月27日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58740. Ni-0.05Sn, N234, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58740
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (試料番号)N234. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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