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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58766. Fe2Cr, DF, 33K., 1993. 7. 28.

 アイテム
資料番号: O-58766
範囲と内容

(試料)Fe2Cr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)33K.

日付: 1993. 7. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58766. Ni-0.3Si, N244, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58766
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)N244. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58767. Fe2Cr, ED., 1993. 7. 28.

 アイテム
資料番号: O-58767
範囲と内容

(試料)Fe2Cr. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1993. 7. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58767. Ni-0.3Si, N244, JMTR uncontrolled, 400℃, 52K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58767
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)N244. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58768. Fe2Cr, BF, 33K., 1993. 7. 28.

 アイテム
資料番号: O-58768
範囲と内容

(試料)Fe2Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K.

(備考)grain　over.

日付: 1993. 7. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58768. Ni-0.3Si, N244, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58768
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)N244. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58769. Fe2Cr, BF, 33K., 1993. 7. 28.

 アイテム
資料番号: O-58769
範囲と内容

(試料)Fe2Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K.

(備考)grain　over.

日付: 1993. 7. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58769. Ni-0.3Si, N244, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58769
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)N244. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58770. Fe2Cr, BF, 33K., 1993. 7. 28.

 アイテム
資料番号: O-58770
範囲と内容

(試料)Fe2Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)33K.

(備考)disl　loop.

日付: 1993. 7. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58770. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58770
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58771. Fe2Cr, ED., 1993. 7. 28.

 アイテム
資料番号: O-58771
範囲と内容

(試料)Fe2Cr. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1993. 7. 28.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58771. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58771
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58772. Fe0.1Cr, DF, 33K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58772
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)33K.

(備考)grain.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58772. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58772
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58773. Fe0.1Cr, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58773
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58773. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58773
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58774. Fe0.1Cr, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58774
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58774. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58774
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58775. Fe0.1Cr, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58775
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ピントずらす.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58775. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58775
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58776. Fe0.1Cr, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58776
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ピントずらす.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58776. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58776
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58777. Fe0.1Cr, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58777
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ピントずらす.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58777. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58777
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58778. Fe0.1Cr, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58778
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ピントずらす.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58778. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58778
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0（3）.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58779. Fe0.1Cr, BF, 17K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58779
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)17K.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58779. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58779
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58780. Fe0.1Cr, BF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58780
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58780. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58780
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58781. Fe0.1Cr, BF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58781
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)GB.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58781. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58781
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58782. Fe0.1Cr, ED., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58782
範囲と内容

(試料)Fe0.1Cr. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58782. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58782
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)奥のGBの近く.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58783. Fe-2Mn, 350℃, DF, 17K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58783
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)17K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58783. Ni-50Cu, JMTR controlled, 400℃., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58783
範囲と内容

(試料)Ni-50Cu. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58784. Fe-2Mn, 350℃, DF, 13K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58784
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)13K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58785. Fe-2Mn, 350℃, BF, 17K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58785
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)17K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58786. Fe-2Mn, 350℃, BF, 13K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58786
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)13K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58787. Fe-2Mn, 350℃, BF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58787
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58788. Fe-2Mn, 350℃, BF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58788
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)GB.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58789. Fe-2Mn, 350℃, DF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58789
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58790. Fe-2Mn, 350℃, BF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58790
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58791. Fe-2Mn, 350℃, BF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58791
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58792. Fe-2Mn, 350℃, BF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58792
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (反射ベクトルg)110. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58793. Fe-2Mn, 350℃, BF, 50K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58793
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58794. Fe-2Mn, 350℃, DF, 25K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58794
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58795. Fe-2Mn, 350℃, BF, 100K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58795
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)ボイドなし.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58796. Fe-2Mn, 350℃, ED., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58796
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58797. Fe-0.4Mn, 350℃, DF, 17K., [1993年7月28日.]

 アイテム
資料番号: O-58797
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)17K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年7月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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