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電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

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件名：ソース: Ku Peek Class

24989 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61223. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61223
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61224. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61224
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61225. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61225
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61226. Ni, JMTR controlled　, 350℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61226
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61227. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61227
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (反射ベクトルg)s＝0. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61228. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61228
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)s＝0. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61229. Ni, JMTR controlled　, 350℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61229
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)s＝0. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61230. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61230
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61231. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61231
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61232. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61232
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61233. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61233
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61234. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61234
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61235. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61235
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)別のgrain　BF各種.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61236. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 31K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61236
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)同じ場所.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61237. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61237
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61238. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61238
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61239. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 53K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61239
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61240. Ni, JMTR controlled　, 350℃, BF, 53K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61240
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)53K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61241. Ni, JMTR controlled　, 350℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61241
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61242. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61242
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61243. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61243
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61244. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61244
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61245. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61245
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61246. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61246
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61247. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61247
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61248. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61248
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61249. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61249
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61250. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61250
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61251. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 8K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61251
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61252. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 21K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61252
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61253. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF　　, 80K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61253
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61254. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61254
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61255. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61255
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61256. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61256
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)Nature判定　-12黒6（0）A　α.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61257. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61257
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)B　α.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61258. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61258
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61259. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61259
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β　＋2赤0-3（240）.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61260. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61260
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61261. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61261
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61262. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61262
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　β　＋ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61263. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61263
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β　＋ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61264. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61264
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61265. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61265
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)A　γ-ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61266. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61266
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)B　γ-ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61267. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61267
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61268. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61268
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61269. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61269
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　-ｇ　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61270. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 42K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61270
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　＋g　B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61271. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61271
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃.

(備考)X.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61272. Ni-2Sn, JMTR uncontrolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61272
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR uncontrolled　. (照射温度)400℃.

(備考)X.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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