電子顕微鏡写真 Electron micrographs::Oシリーズ O series

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82582. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, DF, 21K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82582

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (EM/D3)D3. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82583. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, DF, 11K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82583

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82584. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, DF, 31K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82584

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82585. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, BF, 31K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82585

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82586. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, BF, 52K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82586

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)よごれ.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82587. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, DF, 52K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82587

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82588. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, DF, 52K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82588

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82589. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, DF, 100K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82589

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82590. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, DF, 42K., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82590

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

(備考)よごれあり.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82591. Fe-15Mn-12Cr, 200℃., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82591

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃.

(備考)失敗.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82592. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, ED., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82592

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82593. Fe-15Mn-12Cr, 200℃, ED., [1991年9月18日.]

アイテム

資料番号: O-82593

範囲と内容

(試料)Fe-15Mn-12Cr. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年9月18日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82693. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82693

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82694. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82694

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82695. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82695

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82696. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82696

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82697. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82697

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82698. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82698

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82699. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82699

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82700. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82700

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82701. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82701

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82702. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82702

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82703. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82703

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82704. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82704

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82705. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82705

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82706. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82706

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82707. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82707

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82708. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82708

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82709. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82709

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82710. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82710

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82711. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82711

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82712. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82712

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82713. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82713

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82714. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82714

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82715. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82715

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82716. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82716

範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82717. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

アイテム

資料番号: O-82717

範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.